.

Игнатович Сергей Ромуальдович

НАЦИОНАЛЬНЫЙ АВИАЦИОННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

· предлагаемые разработки · контакты ·

Цель участия в выставке:  
объединение возможностей для доработки, лицензирования, налаживания и расширения сбыта
и для  получения встречных предложений
 

Индентометр «Микрон-гамма»
- прибор для измерения микро-механических характеристик поверхности непрерывным вдавливанием и сканированием индентора.

 

  Организации, которым адресуется данное предложение по воплощению/коммерциализации этой разработки: Научно-исследовательские и научно-производственные организации, работающие в областях: машиностроения, атомной энергетики, создания и модификации материалов, медицине, микро- и наноматериаловедении. 

   Прибор предназначен для тестирования поверхности различных по свойствам материалов путем измерения физико-механических характеристик в микро- и нанообъемах методами непрерывного вдавливания и сканирования алмазного индентора. Индентирование и регистрация результатов измерений осуществляется в автоматизированном режиме. Для малоразмерных образцов, тонких покрытий – это единственный способ оценки микротвердости, модуля упругости и других микромеханических характеристик. 

   Категория, области применения

  • Медицина, ветеринария
  • Обработка, резка, сварка (пайка) материалов
  • Промышленность
  • Профилактика, эксплуатация и ремонт

   Анонс: Новизна и основные преимущества

  • многофункциональность;
  • работа в реальном масштабе времени;
  • малый вес и габариты;
  • бесконтактный электромагнитный нагружатель;
  • дифференциальный измеритель глубины внедрения индентора относительно поверхности образца.

Основные технические характеристики:

Диапазон задаваемых нагрузок, H…..........….0,01 - 5

Измеряемая глубина внедрения, мкм………..0,01 - 200

Скорость нагружения, cH/сек…….…………….0.01 - 100

Время выдержки  под нагрузкой, мин………..0 - 10

Диапазон сканирования, мм……………………30×30

Скорость сканирования, мкм/сек……………..20 – 60

   Раскрытие анонса:

         Технические возможности прибора позволяют тестировать поверхность методами локального (Depth Sensing Testing) и сканирующего (Scratch Testing) индентирования.

Метод локального индентирования основан на автоматической регистрации нагрузки на индентор и глубины его внедрения. Результаты представляются в виде диаграмм нагружения, обработка которых позволяет проводить испытания на микротвердость, изучать особенности микродеформации материалов по кинетике внедрения индентора, регистрировать микроползучесть материалов, измерять модуль упругости материалов.

Метод сканирующего индентирования (царапание) базируется на непрерывной регистрации сопротивления движению индентора по поверхности с заданной нагрузкой. Определение статистических связей между сопротивлением локальных микрообъемов материала контактному деформированию позволяет произвести комплексную оценку состояния поверхностного слоя на трассе сканирования и, в частности, позволяет оценивать среднюю прочность на трассе сканирования, оценивать разброс и неоднородность прочностных свойств, моделировать элементарные акты процессов трения и износа, оценивать адгезию покрытий.

Методы наноиндентирования используются в научных лабораториях при проведении исследований физико-механических свойств поверхности и сверхтонких приповерхностных слоев материалов. Они получили широкое распространение в машиностроительной и металлургической промышленности, а также в таких областях как микроэлектроника (свойства полупроводников, подложек), медицина (свойства протезов, зубных пломб, костной ткани), биология (характеристики растительной ткани), горюче-смазочные материалы (несущая способность масел) и др. 

  •    Стадия развития (готовности):
    Прибор протестирован, доступен для демонстрации – проведены полевые (натурные) испытания 

  •    Стадия готовности к коммерциализации/трансферу: Заявка 

  •    Наличие бизнес-плана: нет, но все необходимые исходные данные для составления могут быть предоставлены.

  •    Предполагаемые сроки для внедрения: 1 год

  •    Предполагаемые сроки окупаемости: 1.5 - 2 года


      Регион Украины: Киев
      Контактные данные:  проспект Космонавта Комарова, 1, НАУ, г. Киев, Украина, 03058, E-mail: ignatovichnau.edu.ua, тел. (044) 497-73-44, тел/факс (044) 408-29-00 
      Контактное лицо:  Игнатович Сергей Ромуальдович 

 ^в верх страницы^

 

· << информация о разработчике ·

ИЗДЕЛИЯ, ОБОРУДОВАНИЕ И ТЕХНОЛОГИИ ДЛЯ РАЗВИТИЯ БИЗНЕСА
интернет-выставка


·  вход на выставку  ·  к карте конкурса  ·

Инвестиционная компания "Экономик Девелопмент Групп"Генеральный спонсор конкурса 2007
Инвестиционная компания "Экономик Девелопмент Групп"

Информационное агентство "Интерфакс-Украина"Генеральный медиа-спонсор конкурса  Информационное агентство "Интерфакс-Украина"